Система показателей качества продукции. Полупроводниковые материалы. Номенклатура показателей
Статус документа:
действует
Название рус.:
Система показателей качества продукции. Полупроводниковые материалы. Номенклатура показателей
Название англ.:
Production quality system. Semiconductor materials. Indices nomenсlature
Дата актуализации текста:
06.04.2015
Дата актуализации описания:
25.08.2020
Дата издания:
01.02.1985
Дата введения:
30.06.1981
Дата последнего изменения:
01.01.2020
Переиздание:
переиздание с изм. 1
Область применения нормативного документа:
Настоящий стандарт устанавливает номенклатуру основных показателей качества объемных монокристаллов полупроводниковых материалов, включаемых в ТЗ на НИР по определению перспектив развития этой группы продукции, государственные стандарты с перспективными требованиями, а также номенклатуру показателей качества, включаемых в разрабатываемые и перспективные стандарты на продукцию, ТЗ на ОКР, технические условия, карты технического уровня и качества продукции
Список изменений в документе:
№1 от 01.07.1985 (рег. 13.03.1985) «Срок действия продлен»
Университет Минстроя НИИСФ РААСН продолжает серию бесплатных вебинаров в рамках проекта «Образование для профессионалов» по вопросам цифровизации строительства.
Ближайшие вебинары:
22 января «Современные тенденции девелоперского бизнеса...
Минстрой России актуализировал целый ряд нормативно-технических документов и обновил 21 классификационную таблицу в КСИ, сообщается на сайте ведомства.
"Обновленные версии 21 классификационной таблицы, в которые...
Президент России Владимир Путин поручил до 1 марта представить предложения по ограничению роста цен на строительные материалы, сообщается на сайте Кремля.
Перечень поручений утвержден по...
В России может появиться электронная площадка для взаимодействия металлургов и девелоперов. Электронная площадка будет доступна для любых девелоперов, но в большей степени это будет...
