Система показателей качества продукции. Полупроводниковые материалы. Номенклатура показателей
Статус документа:
действует
Название рус.:
Система показателей качества продукции. Полупроводниковые материалы. Номенклатура показателей
Название англ.:
Production quality system. Semiconductor materials. Indices nomenсlature
Дата актуализации текста:
06.04.2015
Дата актуализации описания:
25.08.2020
Дата издания:
01.02.1985
Дата введения:
30.06.1981
Дата последнего изменения:
01.01.2020
Переиздание:
переиздание с изм. 1
Область применения нормативного документа:
Настоящий стандарт устанавливает номенклатуру основных показателей качества объемных монокристаллов полупроводниковых материалов, включаемых в ТЗ на НИР по определению перспектив развития этой группы продукции, государственные стандарты с перспективными требованиями, а также номенклатуру показателей качества, включаемых в разрабатываемые и перспективные стандарты на продукцию, ТЗ на ОКР, технические условия, карты технического уровня и качества продукции
Список изменений в документе:
№1 от 01.07.1985 (рег. 13.03.1985) «Срок действия продлен»
